Dostępna aparatura (ZIiMK)

Stanowiska do badania mechanizmów oddziaływań pomiędzy powłoką elektronową a jądrem w swobodnych atomach i jonach metodami:

PODWÓJNEGO REZONANSU „LASER – MIKROFALE” W PUŁAPCE PAULA

Parametry pomiarowe:

  • Próżnia 10-9 mbar, 
  • Zakres częstotliwości mikrofal 0.01-20 GHz, 
  • Zakres długości fali lasera 485-530 nm, 570-620 nm, 
  • Czas akwizycji wyników pomiaru 15 min, 
  • Częstotliwości pola sterującego pułapkowaniem 400-700 kHz, 
  • Zakres napięć 1-1.5 kV

Zakres badań: badania systemów cząstek naładowanych uwięzionych w pułapkach elektromagnetycznych i oddziałujących z polem elektromagnetycznym i promieniowaniem laserowym pod kątem opracowania nowych sensorów sił elektrycznych, magnetycznych czy atomowych.

aparatura nr 1

PODWÓJNEGO REZONANSU „LASER – MIKROFALE” NA STRUMIENIU SWOBODNYCH ATOMÓW

Parametry pomiarowe:

  • Próżnia 10-6 mbar, 
  • Zakres częstotliwości mikrofal 0.01-20 GHz, 
  • Zakres długości fali lasera 485-530 nm, 570-620 nm, 
  • Czas akwizycji wyników pomiaru 15min.

Zakres badań: spektroskopia laserowa atomów o ograniczonej liczbie stopni swobody metodami laserowo indukowanej fluorescencji oraz podwójnego rezonansu laserowo-mikrofalowego.

aparatura nr 2

FLUORESCENCJI INDUKOWANEJ PRZEZ LASER W KATODZIE WNĘKOWEJ

Parametry pomiarowe:

  • Próżnia 10-3mbar
  • Gaz buforowy (argon, neon
  • Zakres długości fali lasera 485-530nm, 570-620 nm, 
  • Prąd wyładowania 10-200mA
  • Napięcie sterujące do 500V

Zakres badań: badanie struktury powłoki elektronowej atomów i oznaczanie rezonansowych przejść elektromagnetycznych (w szczególności atomów ziem rzadkich oraz metali z otwartymi powłokami 3d, 4d i 5d) metodami fluorescencji indukowanej selektywnie światłem laserowym.

aparatura nr 3aparatura nr 4